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FT-HW系列低濕型高低溫濕熱試驗箱，除了可仿真產品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結露試驗)..等，去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變，以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計，半導體破壞率：59%是由靜電所引起的。
※ 需符合性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。

低濕型高低溫濕熱試驗箱設備特點

低濕型高低溫濕熱試驗箱示意圖

采用德國干燥吸附式技術，有效控制產品在受熱脹冷縮時表層凝露及低濕效果

FT-HW高低溫濕熱試驗箱滿足標準

5%RH：20℃/5%RH、50℃/5%RH
7%RH：40℃/7%RH
10%RH：10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、55℃/10%RH
15%RH：10℃/15%RH
20%RH：20℃/20%RH